JTAG或者“IEEE标准1149.1”标准指定如何控制和监测服从的设备别针在印制电路上。 每个设备有四条JTAG控制线路。 有共同的重新设置TRST和时钟TCLK。 数据行雏菊链一个设备的TDO别针到TDI别针在下个设备。 协议包含命令读和设置别针的价值和，任意地设备内部寄存器。 这称“界限扫描”。 协议使委员会测试容易作为不是可看见的在委员会也许读和设置的信号连接器。 协议在委员会也允许测试设备，连接到JTAG口岸，辨认组分通过读设备标识符记数器和控制和监测设备的产品。 在委员会的正常运行期间， JTAG没有使用。 JTAG技术B.V. http://www.jtag.com/。 界限Scan/JTAG技术信息- Xilinx， Inc. http://www.xilinx.com/support/techsup/journals/jtag/。 Java API为界限扫瞄常见问题解答- Xilinx Inc. http://www.xilinx.com/products/software/sx/sxfaqs.htm。 JTAG界限扫描测试产品- Corelis， Inc. http://www.corelis.com/products/scanovrv.html。 “逻辑分析器灭绝烦扰在最尖端”， EDN通入， 1997-04-10 http://www.ednmag.com/ednmag/reg/1997/041097/08df_02.htm。 IEEE 1149.1设备建筑学-界限扫描讲解从ASSET InterTech， Inc. http://www.asset-intertech.com/tutorial/arch.htm。 “特殊用途的集成电路”，迈克尔・约翰Sebatian史密斯，出版阿狄森-维斯利-设计自动化咖啡馆http://www.dacafe.com/DACafe/EDATools/EDAbooks/ASIC/Book/CH14软件调试选择在ASIC核心-嵌入系统编程档案http://embedded.com/97/feat9701.htm。 设计为在机上编程使用IEEE 1149.1 JTAG存取端-英特尔http://developer.intel.com/design/flcomp/applnots/292186.htm固定自检使用界限扫瞄由德洲仪器- EDTN网络http://www.edtn.com/scribe/reference/appnotes/md003e9a.htm。
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